رفتن به محتوای اصلی
گروه تحقیقاتی سان لب
۰2128426303 02166925886 info@sun-lab.ir
تصویربرداری FESEM

تصویربرداری FESEM

میکروسکوپ الکترونی گسیل میدانی: Field Emission Scaning Electron Microscopy

مدل دستگاه: TESCAN mirra3 ساخت جمهوری چک

انواع خدمات:

  • تصویربرداری از سطح نمونه
  • تعیین ترکیب شیمیایی به صورت عنصری (EDS)
  • تعیین اندازه ذرات در محدوده میکرو و نانو
  • آنالیز صفحه ای (Mapp)
  • تصویربرداری از نمونه های گیاهی و جانوری

میکروسکوپ الکترونی گسیل میدانی اطلاعات عنصری و توپوگرافیکی را در بزرگنمایی ۱۰ تا ۳۰۰۰۰۰ برابر فراهم می‌کند.  تصاویر FESEM با رزولوشن ۱ تا ۰/۵ نانومتر بسیار واضح‌تر از SEM است.  برای نمونه‌های با اندازه نانو، بهتر است از میکروسکوپ الکترونی گسیل میدانی (FESEM) استفاده شود. 

 

مبانی آنالیز EDS‌ و آشکارسازهای مورد استفاده

پرتو ایکس معمولاً زمانی تولید می‌شود که باریکه پرتو الکترونی اولیه سبب بیرون راندن الکترون داخلی‌ترین لایه شود. الکترون لایه بیرونی این جاي خالی را پر خواهد کرد، اما با این عمل از الکترون لایه بیرونی پرتو ایکس ساطع خواهد شد که انرژي این پرتو به جرم هسته الکترون و تفاوت در انرژي‌هاي اوربیتال‌هاي الکترون‌هاي مورد بحث بستگی خواهد داشت.

مهمترین نکته در آنالیز عنصری به این روش، نحوه انداز‌ه گیری طول موج یا انرژی پرتو ایکس ساطع شده است. بدین منظور آشکارسازهای متنوعی توسعه پیدا کرده اند. این آشکارسازها به صورت کمی و یا کیفی ترکیب شیمیایی نمونه را تعیین می‌کنند. در آشکارسازهای کمی، مکانیزم رایج، تبدیل فوتون‌های پرتو ایکس به سیگنال‌های ولتاژی می‌باشد. از آنجا که شدت سیگنال‌ها با انرژی پرتو تناسب دارد، این آشکارسازها را آشکارسازهای تناسبی می‌نامند. در ادامه به برخی از آنها اشاره شده است:

 آشکارسازی با فیلم عکاسی

 آشکارسازهای گازی

 آشکارسازهای تهییجی

 آشکارساز نیم‌رسانا

میکروسکوپ‌هاي الکترونی با قابلیت‌هاي خود تحولی عظیم در زمینه میکروسکوپی ایجاد کردند. این میکروسکوپ‌ها با قدرت تفکیک بالا، امکان مطالعه در زمینه علوم مختلف از جمله بایولوژي، فیزیک، پزشکی، نانو و … را میسر نمودند. از طرفی، یکی از مزیت‌های آن‌ها مجهز بودن به سیستم EDS است که به صورت هم زمان، تصویري از نمونه و امکان شناسایی عناصر یا فازهاي مختلف نمونه را به ما می دهد.

 

آنالیز EDS

 

مبانی EDS

آنالیز EDS یک روش نیمه کمی براي تعیین درصد عناصر موجود در نمونه می‌باشد. این روش مبتنی بر، برهم کنش منبع الکترونی با نمونه می‌باشد. آشکارگرهایی که در این روش براي شناسایی عناصربه کار می روند نیمه هادي‌هایی از جنس سیلیکون یا ژرمانیوم می باشند.  در این روش با استفاده از پرتو ایکس ساطع شده از نمونه (نمونه ای که توسط الکترون بمباران شده) برای شناسایی عناصر تشکیل دهنده نمونه استفاده می‌شود. این دستگاه از سه بخش اصلی بخش اصلی تشکیل شده است:
منبع تحریک کننده
آشکارساز پرتو ایکس
پردازشگر پالسی

شکل۱. شمایی از اجزاء اصلی EDS

 

تحریک کننده های الکترونی در میکروسکوپهای SEM و STEM مورد استفاده قرا می‌گیرد و تحریک کننده‌های با پرتو ایکس در .XRF از یک آشکارساز برای تبدیل انرژی به سیگنال‌های ولتاژی استفاده می‌شود که سیگنال‌ها را اندازه گیری کرده و آن‌ها را با سیستم پردازشگر پالسی می‌فرستد. رایجترین آشکارسازها در تکنیک EDS، آشکارساز (SiLi) است.

 

تفاوت‌های آنالیز TEM و FESEM:

مقایه آنالیزهای TEM و SEM

———————————————————————————————————-

هزینه آنالیز FESEM هر نمونه به همراه لایه نشانی طلا:

     یک نمونه: ۸۰ هزار تومان

     به ازای هر ۵ نمونه، یک نمونه رایگان

هزینه آنالیز EDS هر نمونه:

     یک نمونه: ۳۰ هزار تومان

—————————————————————————-

 

آنالیز FESEM در پکیج‌های تخفیفی سان‌لب وجود دارد:

 

 

برای اطلاعات بیشتر از تخفیفات پکیج‌های آنالیز سان‌لب با شماره ۰۹۱۹۳۷۰۲۱۳۲ تماس بگیرید.

تصاویر نمونه:

      

فرم پذیرش نمونه را از فایل زیر دانلود نمایید:

FESEM
FESEM
FESEM_2.pdf
471.6 KiB
54 Downloads
اطلاعات بیشتر
برگشت به بالا