رفتن به محتوای اصلی
گروه تحقیقاتی سان لب
۰2128426303 02166925886 info@sun-lab.ir

آنالیز AFM

تصویربرداری میکروسکوپ اتمی: Atomic Force Microscopy و کاربردهای آن

—————————————————————————-

مدل دستگاه: AFM FULL-PLUS MODEL

هزینه هر نمونه: 

Non Contact (غیر تماسی): ۹۰هزار تومان

Contact (تماسی): ۱۰۰هزار تومان

 

——————————————————————————

خانواده میکروسکوپ‌های پروبی روبشی از زیرمجموعه‌هایی تشکیل شده‌اند که همگی آن‌ها به بررسی خواص سطحی مواد از مقیاس اتمی تا میکرونی می‌پردازند. دستگاه‌های این خانواده با استفاده از یک سوزن بسیار تیز از جنس تنگستن، نانولوله‌های کربنی و غیره، سطح را روبش کرده و بسته به نوع دستگاه خواص سطحی مورد نظر را تصویر می‌کنند.

دو نوع متداول این میکروسکوپ‌ها، میکروسکوپ نیرو اتمی (Atomic Force Microscopy-AFM) و میکروسکوپ تونلی روبشی (Scanning Tunneling Microscopy-STM) هستند. آنالیز AFM یکی از روش‌های مورد استفاده در اندازه گیری پستی و بلندی سطوح (توپوگرافی) و تصویربرداری دو و سه بعدی از سطوح با قدرت تفکیک اتمی بشمار می آید. مبنای تشکیل تصویر در میکروسکوپ نیروی اتمی، نیروی بین سوزن و سطح نمونه است. در این میکروسکوپ، سطح نمونه با سوزنی تیز به طول ۲ میکرومتر و قطر کمتر از ۱۰۰ آنگستروم روبش می‌شود. سوزن در انتهای یک تیرک (cantilever) به طول ۱۰۰ تا ۲۰۰ میکرومتر قرار گرفته است. تیرک را معمولا از موادی می‌سازند که قابلیت ارتجاع بالایی داشته باشد. سر دیگر تیرک به بازوی پیزوالکتریک (پیزوالکتریک به دسته‌ای از مواد گفته می‌شود که در اثر تحریک الکتریکی از خود حرکت مکانیکی نشان می‌دهند و بلعکس. از این مواد در جابه‌جایی‌های بسیار دقیق استفاده می‌شود) متصل شده است. وقتی سوزن روی سطح نمونه کشیده می‌شود به دلیل پستی‌بلندی‌های سطح، نیرویی از طرف سطح به سوزن اعمال و موجب خمش و یا انحراف تیرک می‌شود. این انحرافات نسبت مستقیم با نیروی وارد شده به سوزن دارد. آشکارساز در این میکروسکوپ با اندازه‌گیری این انحرافات در حین روبش سطح، به رایانه این امکان را می‌دهد تا نقشه پستی بلندی‌های سطحی را تولید کند. چندین نیرو در انحراف تیرک دخیل هستند. معمول‌ترین نیروی مورد استفاده در این میکروسکوپ، نیروی بین اتمی واندروالسی است. حالت‌های بررسی به سه صورت تماسی، غیر تماسی و ضربه‌ای تقسیم‌بندی می‌شوند.

دستگاه AFM در آزمایشگاه سان‌لب قادر به اندازه‌گیری در سه حالت تماسی، غیر تماسی و ضربه‌ای است. لطفا حالت درخواستی را در فرم مربوط به آنالیز بنویسید. هم‌چنین، خواهشمند است قبل از ارسال نمونه‌های خود، فرم مربوط به آنالیز مورد نظر را دانلود نمایید و پس از تکمیل آن به همراه نمونه ها به آدرس ما ارسال نمایید.

فرم پذیرش نمونه را از فایل زیر دانلود نمایید:

 

آنالیز AFM
آنالیز AFM
D8A2D986D8A7D984DB8CD8B2-AFM_2.pdf
466.0 KiB
29 Downloads
اطلاعات بیشتر
برگشت به بالا